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Marching和棋盘测试算法可进行存储器单元的综合测
发布时间:2018-11-24 23:27

  》这篇文章过后,想获得有关内存测试仪的资料和报价,并且想买一台,另外内存的配件从哪里可以获得。

  SP3000首次将SIMM和DIMM测试功能集成在一个通用的、可单独使用的、便携式存储器测试仪上。该测试仪能进行30针SIMM、72针SIMM、168针DIMM、 200针DIMM等多种存储器模块的测试。它配有支持PC133、PC100、PC66 SDRAM; FPM; EDO;SODIMM;PCMCIA SGRAM等模块的简单插拔式适配器。 测试能力 SP3000 SDRAM测试仪配有通用测试台和满足各种用户测试需求的适配器。SP3000 SDRAM测试仪带有标准168针 SDRAM DIMM插座,可进行PC133、 PC100、 PC66 SDRAM测试。 SP3000 DRAM测试仪带有72针和168针 DRAM SIMM/DIMM插座,可进行DRAM EDO FPM模块测试。 SP3000组合测试仪配有上述二个适配器。您可选择不同的适配器来满足不同的需要。SP3000测试仪灵活多变的模块式结构使其可以测试种类繁多的存储器模块。 测试SDRAM、SGRAM、DRAM SIMM、EDO DIMM、SODIMM 模块、PCMCIA存储卡、存储芯片等器件只需选用不同的适配器,而使用相同的测试台。SP3000测试仪内置80个数据位和16路复用地址线-特性

  为满足您测试需要而量身定做了二种测试算法。Walk Data和Walk Address测试模式用于快速测试。它可在数秒内完成焊接开/短路的检测。Marching和棋盘测试算法可进行存储器单元的综合测试。它可检测漏焊,元件交叉污染,非连续故障及记时和噪声等因素导致的故障。测试仪可对模块的Eeprom进行测试和编辑(SPD)。

  有一些增强性能用来提高测试精度。它们包括:芯片加热,电压抖动,重复测试,计时参数可调(可选),可更改刷新模式和周期,刷新测试,ICC测量,地址和RAS/CAS测试。另外,它还支持带奇偶校验位和ECC位的模块。

  模块参数(如:访问时间)的确认只需轻轻按下一个按钮。这种自动确认方式使用户可以迅速识别未知模块。测试完成后,故障数据位将显示在液晶显示器上。如您需要打印测试报告,只需将打印机与内置串口相连即可。

  这种便携式SIMM/DIMM测试仪适用各种情况。在现场,您可使用电池包做电源。在实验室,您可以直接将它接到普通交流电源上。在大批量生产作业时,理想的方案是将SP3000与CST的RoboFlex自动化SIMM/DIMM/SODIMM/RIMM机械手相配,进行全自动测试。无论何种情况,SP3000都可连接到PC机上运行,或下载公司的升级软件。